真理光學技術團隊具有超過二十年粒度表征及應用開發的經驗，曾研發出中國第一臺商用激光粒度分析儀。LT3600系列和LT2200系列是真理光學基于多年的科研成果并融合多項專利技術開發的新一代超高速智能激光粒度分析系統，為全球激光粒度分析行業樹立了新標桿。LT3600系列和LT2200系列粒度儀被廣泛用于磨料，制藥，化工，電池材料，地質，水文等行業的顆粒粒度表征分析。
針對電池材料行業用戶的電池材料粒度粒形檢測需求，真理光學開發的新一代LT系列激光粒度儀加持了如下技術研究成果：
（1）發現愛里斑的反常變化（ACAD）規律及其對粒度測量的影響，解決了ACAD現象對光能數據反演的干擾。
（2）獨創的偏振空間濾波技術
（3）斜置梯形窗口技術。
（4）統一的散射光能反演算法，免除了用戶必須選擇反演模式，而不同模式有不同結果的困擾。
（5）分散系統雙電機驅動及液位連續監控。
為電池材料粒度粒形測試提供可靠保證和穩定數據支撐。
